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導熱儀
TLF-熱反射法薄膜導熱儀
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熱反射法薄膜導熱儀 TF-LFA L54采用頻域熱反射(FDTR)非接觸技術,專為精確表征納米至微米級薄膜材料的熱物性(導熱系數(shù)、熱擴散系數(shù)等)而設計。尤其適用于半導體、熱電、LED等領域的功能性薄膜。技術優(yōu)良,無需樣品熱容和密度已知,即可實現(xiàn)對薄膜及界面熱阻的完整評估。
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